日立 钨灯丝扫描电子显微镜 SU3800 SU3900

日立 钨灯丝扫描电子显微镜 SU3800 SU3900



产品介绍:


集优异性能、操作简便性、多样化功能于一身

日立高新推出的扫描电镜SU3800/SU3900兼具操作性和扩展性,结合众多的自动化功能,可高效发挥其高性能。SU3900标配多功能超大样品仓,可应对大型样品的观察。


产品特点:


①SU3900标配多功能超大样品仓,可应对大型样品的观察

■样品台可搭载超大/超重样品


通过更换样品提示,可防止由于与样品的接触而损坏设备或样品

选配样品交换仓,可在主样品仓保持真空的状态下快速更换样品,大大提高了工作效率

具备样品台移动限制解除功能,提高了自由度*

红外CCD探测器,提高了样品台移动的安全性

■支持全视野移动。SEM MAP支持超大样品的全视野观察


与GUI联合,可配备样品仓室导航相机

覆盖整个可观察区域

支持360度旋转



②随着各种自动化功能的强化,操作性能得到了进一步优化。

■一个鼠标就能够轻松操作的简约GUI

■各种自动化功能

自动调整算法经改良后,等待时间减少至以往的1/3以下(※S-3700N比例)

提高了自动聚焦精度

搭载Intelligent Filament Technology(IFT)

■Multi Zigzag,可实现多区域的大视野观察

■Report Creator,可利用获得的数据批量生成数据报告



③可提供满足测试需求的应用解决方案

■可满足多种观察需求的探测器

搭载高灵敏度UVD*,支持CL观察

高灵敏度半导体式背散射电子探测器,切换成分/凹凸等多种图像

■配备了多功能超大样品仓,可以搭载多种配件

>■SEM/EDS一体化功能*

■三维显示测量软件 Hitachi Map 3D*

■支持图像测量软件Image pro

*配件



矿物的观察分析案例


显示了锆石晶体在相同视野下的观察结果。在BSE图像中很难看清铬浓度的缓和偏差。但是,在CL图像中可以确认到暗 色区域是对应于错浓度较高的区域。




应用图例


金属材料



陶瓷材料



电子零件



生物/医药品





产品规格



ITEM SU3800 SU3900
二级电子分解能 3.0nm(加速电压30kV、WD=5mm、高真空模式)
15.0nm(加速电压1kV、WD=5mm、高真空模式)
背散射电子分解能 4.0nm(加速电压30kV、WD=5mm、低真空模式)
倍率 ×5~×300,000(照片倍率*1)
×7~×800,000(实际显示倍率*2)
加速电压 0.3kV~30kV
低真空度设定 6~650Pa
图像位移 ±50µm(WD=10mm)
样品尺寸 200mm直径 300mm直径
样品台
X 0~100mm 0~150mm
Y 0~50mm 0~150mm
Z 5~65mm 5~85mm
R 360°连续
T -20°~+90°
可观察范围 130mm直径(R并用) 200mm直径(R并用)
可观察高度 80mm(WD=10mm) 130mm(WD=10mm)
电机驱动 5轴电机驱动
电子光学系统
电子枪 中心操控式钨丝发射
物像镜头光圈 4孔可动光圈
检测系统 二级电子检测器、高灵敏半导体背散射电子检测器
EDX分析WD WD=10mm(T.O.A=35°)
图像显示 自动光轴调整功能 自动光束调整(AFS→ABA→AFC→ABCC)
自动光轴调整(实时级别对齐)
自动调整光束亮度
自动图像调整功能 自动亮度和对比度控制(ABCC)
自动对焦控制(AFC)
自动标记和焦点功能(ASF)
自动灯丝饱和度调整(AFS)
自动光束对准(ABA)
自动启动(HV-ON→ABCC→AFC)
操作辅助功能 光机旋转、动态聚焦、图像质量改善功能、数据输入(点对点测量、角度测量、文本)、预设放大、样品台位置导航功能(SEM MAP)、光束标记功能
配件 ■硬件:轨迹球、操纵杆、操作面板、压缩机、高灵敏度操作低空探测器(UVD)、红外CCD探测器、摄像机导航系统■软件:SEM数据管理器外部通讯接口、3D捕获、装置台移动限制解除功能、EDS集成
配件(外部装置) 能量散射X射线分析仪(EDS)、波长色散X射线分析仪(WDS)、各种外部功能台(加热台、冷却台、牵引台)



* 1.指正放大倍率为127 mm x 95 mm(4x5照片尺寸)的显示尺寸。


* 2.放大倍率为509.8 mm x 286.7 mm(1,920 x 1,080像素)的显示尺寸。