电导率-塞贝克系数扫描探针显微镜
电导率-塞贝克系数扫描探针显微镜 系统组成部分 1、三矢量轴定位平台及其 2、热量克测量的测温探针 3、接触探测系统 4、模拟多路器 5、数字电压表 6、锁相放大器7、摄像探头 8、带有控制软件和 GPIB 总线的计算机 9、样品架 主要技术参数 位置单向定位精度： 1 μm 位置双向定位精度： 3 μm zui大扫描区域： 150 mm × 50 mm 局部测量精度： 10 μm (与该区域的热传导有关) 信号测量精度： 100 nV 测量结果重复性： 优于3% 误差 塞贝克系数： < 3% (半导体) < 5% (金属) 电导率： < 5% (半导体) < 8% (金属) 电导率-塞贝克系数扫描探针显微镜 应用领域 测量速度： 测量一个点的时间小于4秒 1、热电材料，超导材料，燃料电池，导电陶瓷以及半导体材料的均匀度测量 2、测量功能梯度材料的梯度 3、观察功能梯度材料的梯度效应 4、监测 NTC/PTC 材料的电阻漂移 5、导电固体中的传导损耗 6、阴极材料的电导率损耗 7、GMR 材料峰值温度的降低，电阻率的变化 8、样品的质量监控 技术由德国 Panco 公司和德国宇航中心公共研制开发，点击资料下载按钮下载说明手册。 部分用户名单： Beijing University of TechnologyCorning CompanyKorea Research Institute of Standards and ScienceShanghai Institute of Ceramics, CASGermany Air Force Research Lab Simens CompanyGwangju Institute of Science and TechnologyHamburg UniversityMunich University
